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Models, Methods and Measurements of Thin Films Resistivities of Ni/Cu Bi layers and Ni/Pd/Cu Tri layers Films., Vol. 7, No. 2 (May 2018), PP:67-71
doi:10.18576/ijtfst/070203
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Authors: |
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M. K. Loudjani - Université Paris-Saclay, Institut de Chimie Moléculaire et des Matériaux dOrsay (ICMMO), UMR 8182 (CNRS), Equipe Synthèse, Propriétés et Modélisation des Matériaux (SP2M), Bât 410, Bur. 350, Rue du Doyen Georges Poitou 91405 Orsay Cedex, France.
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C. Sella - Institut des Nano-Sciences de Paris, Université de Paris-VI, campus Boucicaut, 140 rue de Lourmel 75015 Paris, France.
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